LCR測(cè)試儀測(cè)量元器件如何進(jìn)行連接、校準(zhǔn)?
點(diǎn)擊次數(shù)：1733 更新時(shí)間：2021-01-26
LCR測(cè)試儀就是用來(lái)測(cè)試元器件（電容/電感/電阻）參數(shù)的。在一般情況下，電阻只要測(cè)量其直流電阻值就可以了，這樣可以使用萬(wàn)用表或者電阻測(cè)試儀。
用儀器測(cè)量元器件的參數(shù)時(shí)，其關(guān)鍵問(wèn)題是測(cè)量誤差。它的誤差來(lái)源主要有兩部分，首先是測(cè)試儀本身的內(nèi)部誤差，其次是由不正確校準(zhǔn)、測(cè)試件的連接方法及不正確選擇測(cè)量電路模型引起的。一般連接方法越麻煩越能準(zhǔn)確地測(cè)量出元器件的參數(shù)。
LCR測(cè)試儀的校準(zhǔn)
首先對(duì)測(cè)試儀進(jìn)行開(kāi)路校準(zhǔn)，開(kāi)路校準(zhǔn)主要是消除測(cè)試夾具與被測(cè)件相并聯(lián)的雜散導(dǎo)納。其次是進(jìn)行短路校準(zhǔn)，通過(guò)一短路條（用低阻抗的金屬板）將高、低電極相連。短路校準(zhǔn)主要是消除測(cè)試夾具與被測(cè)件相串聯(lián)的殘余阻抗的影響。
選擇測(cè)量電路模型
對(duì)于小電容、大電感來(lái)說(shuō)，電抗一般都很大。這意味著并聯(lián)電阻的影響相對(duì)于小數(shù)值串聯(lián)電阻更加顯著，所以應(yīng)采用并聯(lián)電路模型。相反，對(duì)于大電容、小電感則采用串聯(lián)模型。大于10K11左右用并聯(lián)，小于10KQ左右用串聯(lián)。
LCR測(cè)試儀與被測(cè)件的連接
對(duì)測(cè)試電纜和被測(cè)件進(jìn)行屏蔽，通過(guò)抑制雜散電容，減少對(duì)高阻抗測(cè)試的測(cè)量誤差。一般用于小電容的測(cè)量。為了將測(cè)試引線(xiàn)的雜散電容減小，測(cè)試電纜引線(xiàn)的中心導(dǎo)體應(yīng)維護(hù)盡可能短，測(cè)量接頭的屏蔽與電纜中心導(dǎo)體互聯(lián)，以降低對(duì)地雜散電容的影響。
隨著科學(xué)應(yīng)用技術(shù)不斷發(fā)展的需要，LCR測(cè)試儀的測(cè)量精度要求越來(lái)越重要，因此測(cè)量方法的好壞對(duì)保征產(chǎn)品質(zhì)量和提高企業(yè)經(jīng)濟(jì)效益有著一定的實(shí)際意義。
